ul. Janiszewskiego 11/17, 50-372 Wrocław
building C-2, room 206
phone +48 71 320 2565

Office hours

Research fields

• Deposition and etching of thin films by glow discharge plasma enhanced methods; technology of Diamond-like Carbon films; characterization of optical properties of dielectric films.

Recent papers

2017

• Wiatrowski A., Kijaszek W., Posadowski W., Oleszkiewicz W., Jadczak J., Kunicki P., Deposition of diamond-like carbon thin films by the high power impulse magnetron sputtering method, Diamond and Related Materials, vol. 72 (2017), s. 71-76.

2016

• Kijaszek W., Oleszkiewicz W., Zakrzewski A., Patela S., Tłaczała M., Investigation of optical properties of silicon oxynitride films deposited by RF PECVD method, Materials Science-Poland, vol. 34, nr 4 (2016), s. 868-871.
• Kijaszek W., Oleszkiewicz W., Optimization of radio frequency inductively coupled plasma enhanced chemical vapour deposition process of diamond-like carbon films, Optica Applicata, vol. 46, nr 2 (2016), s. 167-172.

2013

• Oleszkiewicz W., Markowski J., Srnánek R., Kijaszek W., Gryglewicz J., Kováč J., Tłaczała M., Influence of RF ICP PECVD process parameters of diamond-like carbon films on DC bias and optical emission spectra, Optica Applicata, vol. 43, nr 1 (2013), s. 109-115.

Papers in DONA database

Selected publications
1	Artykuł 2026 Michał Stępniak Mateusz M Wośko Wojciech Kijaszek Joanna Prażmowska-Czajka Andrzej P Stafiniak Regina Paszkiewicz Mask interference effect in GaN SA-MOVPE: Predicting the growth of isolated structures. Materials Science and Engineering. B, Advanced Functional Solid-State Materials. 2026, vol. 323, Pt. A, art. 118730, s. 1-9. ISSN: 0921-5107; 1873-4944 Zasoby:DOISFX
2	Artykuł 2025 Natalia Piegat, Wojciech Kijaszek Sergiusz Patela Artur Wymysłowski Influence of ellipsometric data type on SiO2 thickness prediction accuracy for different machine learning algorithms. Przegląd Elektrotechniczny. 2025, R. 101, nr 5, s. 89-93. ISSN: 0033-2097; 2449-9544 Zasoby:DOIURL
3	Referat konferencyjny 2025 Wojciech Dawidowski Jaroslav Bruncko, Andrej Vincze, Wojciech Kijaszek Monika Wełna Bartłomiej Staszak, Damian Radziewicz Beata Ściana Electro-optical characterization of transparent indium doped ZnO thin films. W: 13th International Conference on Advances in Electronic and Photonic Technologies : proceedings of ADEPT, Podbanské, High Tatras, Slovakia, June 15-18, 2025 / eds. D. Jandura, I. Lettrichova. [B.m. : University of Žilina in EDIS-Publishing Centre of UZ, 2025]. s. 35-38. ISBN: 978-80-554-2208-4 Zasoby:URL
4	Artykuł 2025 Piotr Pokryszka Wojciech Kijaszek Sergiusz Patela Andrzej P Stafiniak Mateusz M Wośko Regina Paszkiewicz In-situ characterization of GaN material using reflectance spectroscopy. Metrology and Measurement Systems. 2025, vol. 32, nr 1, s. 1-12. ISSN: 0860-8229; 2300-1941 Zasoby:DOIURLSFX
5	Artykuł 2024 Agata Obstarczyk Ewa Mańkowska Wiktoria Kołodzińska Paulina Kapuścik Wojciech Kijaszek Michał M Mazur Analysis of the impact of post-process modifications on the properties of TiO2 thin films with high-temperature stable anatase phase deposited by the electron beam evaporation method. Opto-Electronics Review. 2024, vol. 32, nr 4, art. e151991, s. 1-9. ISSN: 1230-3402; 1896-3757 Zasoby:DOIURLSFX
6	Referat konferencyjny 2024 Wojciech Kijaszek Karol Kolasiński, Sergiusz Patela Regina Paszkiewicz Development of ellipsometric models of Diamond-like Carbon films deposited by the RF IC PECVD technique. W: 12th International Conference on Advances in Electronic and Photonic Technologies : proceedings of ADEPT, Podbanské, High Tatras, Slovakia, June 24-27, 2024 / eds. M. Feiler [i in.]. [B.m. : University of Žilina in EDIS-Publishing Centre of UZ, 2024]. s. 61-64. ISBN: 978-80-554-2109-4 Zasoby:URL
7	Artykuł 2024 Monika Mikulicz Tristan Smołka Michał D Rygała Mikołaj Badura Wojciech Kijaszek Adriana Łozińska Martin Kamp, Marcin Motyka Temperature dependence of refractive indices of InP, GaAs, AlAs, and In0.53Ga0.47As in the midinfrared spectral range determined by combined ellipsometry and Fourier-transform spectroscopy. Physical Review Applied. 2024, vol. 21, nr 4, art. 044001, s. 1-11. ISSN: 2331-7019 Zasoby:DOIURLSFX
8	Artykuł 2023 Maciej Jaworski Aleksandra Chudzyńska, Paweł Mrowiński Joanna Prażmowska-Czajka Wojciech Kijaszek Jan Große, Sven Rodt, Stephan Reitzenstein, Grzegorz Sęk Xenon-plasma focused ion beam processing of photonic microstructures with GaAs-based quantum dots. Optical Materials Express. 2023, vol. 13, nr 10, s. 2845-2856. ISSN: 2159-3930 Zasoby:DOISFX
9	Artykuł 2023 Wojciech Kijaszek Artur Wiatrowski Michał M Mazur Damian Wojcieszak Regina Paszkiewicz Jaroslav Jr Kovăč, Study on properties of diamond-like carbon films deposited by RF ICP PECVD method for micro- and optoelectronic applications. Materials Science and Engineering. B, Advanced Functional Solid-State Materials. 2023, vol. 296, s. 1-9, art. 116691. ISSN: 0921-5107; 1873-4944 Zasoby:DOIURLSFX
10	Referat konferencyjny 2023 Mikołaj Badura Beata Ściana Adriana Łozińska Damian Radziewicz Wojciech Kijaszek Wojciech Dawidowski Marek Tłaczała Kwantowe lasery kaskadowe: technologia MOVPE i konstrukcje. W: XIV Konferencja Naukowa Technologia Elektronowa ELTE 2023, Ryn, 18-21 kwietnia 2023 : materiały konferencyjne. [B.m.] : Instytut Mikroelektroniki i Optoelektroniki Politechniki Warszawskiej, [2023]. s. 106-107. ISBN: 978-83-64102-05-9 Zasoby:URL

All employee publications