Wojciech Dawidowski, PhD
Email: wojciech.dawidowski@pwr.edu.pl
Unit: Faculty of Electronics, Photonics and Microsystems (N) » Department of Microelectronics and Nanotechnology
ul. Długa 61-65, 53-633 Wrocław
building M-11, room 120
phone +48 71 320 4940
Recent papers
2018
- López-Escalante M. C., Ściana B., Dawidowski W., Bielak K., Gabás M., Atomic configurations in AP-MOVPE grown lattice-mismatched InGaAsN films unravelled by X-ray photoelectron spectroscopy combined with bulk and surface characterization techniques. Applied Surface Science. 2018, vol. 433, s. 1-9.
- Kosa A., Stuchlíková Ľ., Harmatha L., Kováč J., Ściana B., Dawidowski W., Tłaczała M., DLTS study of InGaAs and GaAsN structures with different indium and nitrogen compositions. Materials Science in Semiconductor Processing. 2018, vol. 74, s. 313-318.
2017
- Szyszka A., Dawidowski W., Stafiniak A. P., Prażmowska-Czajka J., Ściana B., Tłaczała M., Cross-sectional scanning capacitance microscopy characterization of GaAs based solar cell structures. Crystal Research and Technology. 2017, vol. 52, nr 6, art. 1700019, s. 1-5.
2016
- Dawidowski W., Ściana B., Zborowska-Lindert I., Mikolášek M., Bielak K., Badura M., Pucicki D., Radziewicz D., Kováč J., Tłaczała M., The influence of top electrode of InGaAsN/GaAs solar cell on their electrical parameters extracted from illuminated I–V characteristics. Solid-State Electronics. 2016, vol. 120, s. 13-18.
- Kósa A., Stuchlíková Ľ., Harmatha L., Mikolášek M., Kováč J., Ściana B., Dawidowski W., Radziewicz D., Tłaczała M., Defect distribution in InGaAsN/GaAs multilayer solar cells. Solar Energy. 2016, vol. 132, s. 587-590.
- Ściana B., Badura M., Dawidowski W., Bielak K., Radziewicz D., Pucicki D., Szyszka A., Żelazna K., Tłaczała M., LP-MOVPE growth of high Si-doped InGaAs contact layer for quantum cascade laser applications. Opto-Electronics Review. 2016, vol. 24, nr 2, s. 95-102.
- Pucicki D., Bielak K., Badura M., Dawidowski W., Ściana B., Influence of GaInNAs/GaAs QWs composition profile on the transitions selection rules. Microelectronic Engineering. 2016, vol. 161, s. 13-17.
| 1 | Article 2024
Milena Kiliszkiewicz, Jarosław Domaradzki, Witold Posadowski, Michał Mazur, Artur Wiatrowski, Wojciech Dawidowski, Piotr Mazur, Damian Wojcieszak, Paweł Chodasewicz, Mateusz Bartczak,
| ||||
| 2 | Article 2024
Guoxiu Zhang, Lars Rebohle, Fabian Ganss, Wojciech Dawidowski, E Guziewicz, Jung-Hyuk Koh, Manfred Helm, Shengqiang Zhou, Yufei Liu, Slawomir Prucnal,
| ||||
| 3 | Proceeding paper 2024
Wojciech Dawidowski, Zbigniew Starowicz, Jakub Ostapko, Janusz Woźny, Bartłomiej S Witkowski, Rafał Pietruszka, Marek Godlewski, Jaroslav Bruncko, Miroslav Michalka, Andrej Vincze, Beata Ściana,
| ||||
| 4 | Article 2023
Juanmei Duan, Maciej O Liedke, Wojciech Dawidowski, Rang Li, Maik Butterling, Eric Hirschmann, Andreas Wagner, Mao Wang, Lawrence Boyu Young, Yen-Hsun Glen Lin, Minghwei Hong, Manfred Helm, Shengqiang Zhou, Slawomir Prucnal,
| ||||
| 5 | Proceeding paper 2023
Wojciech Dawidowski, Beata Ściana, Damian Radziewicz, Jaroslav Jr Kovăč,
| ||||
| 6 | Proceeding paper 2023
Damian Radziewicz, Beata Ściana, Wojciech Dawidowski, Mikołaj Janczak, Tomasz Czyszanowski, Monika Mikulicz, Michał D Rygała, Tristan Smołka, Marcin Motyka,
| ||||
| 7 | Proceeding paper 2023
Ľubica Stuchlíková, Beata Ściana, Arpad Kosa, Matej Matuš, Peter Benko, Wojciech Dawidowski, Damian Radziewicz, Martin Weis,
| ||||
| 8 | Proceeding paper 2023
Mikołaj Badura, Beata Ściana, Adriana Łozińska, Damian Radziewicz, Wojciech Kijaszek, Wojciech Dawidowski,
| ||||
| 9 | Proceeding paper 2023
Wojciech Dawidowski, Beata Ściana, Damian Radziewicz, Wojciech Macherzyński, Mikołaj Badura, Arpad Kosa, Miroslav Mikolášek, Matej Matuš, Martin Florovič, Ľubica Stuchlíková, Jaroslav Kováč,
| ||||
| 10 | Proceeding paper 2022
Peter Benko, Arpad Kosa, Matej Matuš, Wojciech Dawidowski, Damian Radziewicz, Beata Ściana, Ľubica Stuchlíková,
| ||||
