|
|---|
| 1 | Article 2024
Milena Kiliszkiewicz, Jarosław Domaradzki, Witold Posadowski, Michał Mazur, Artur Wiatrowski, Wojciech Dawidowski, Piotr Mazur, Damian Wojcieszak, Paweł Chodasewicz, Mateusz Bartczak, | Effect of sputtering power and oxygen partial pressure on structural and opto-electronic properties of Al-doped ZnO transparent conducting oxides. Applied Surface Science. 2024, vol. 670, art. 160601, s. 1-11. ISSN: 0169-4332; 1873-5584 | | Resources:DOISFX |     |
|
| 2 | Article 2024
Michał Mazur, Milena Kiliszkiewicz, Witold Posadowski, Jarosław Domaradzki, Aleksandra Małachowska, Paweł Sokołowski, | A comprehensive investigation of the mechanical and tribological properties of AZO transparent conducting oxide thin films deposited by medium frequency magnetron sputtering. Materials. 2024, vol. 17, nr 1, art. 81, s. 1-15. ISSN: 1996-1944 | | Resources:URLSFX | |
|
| 3 | Proceeding paper 2023
Jarosław Domaradzki, Witold Posadowski, Milena Kiliszkiewicz, Michał Mazur, Damian Wojcieszak, Artur Wiatrowski, Malwina Sikora, Patrycja A Pokora, Ewa Mańkowska, Paulina Kapuścik, Paweł Chodasewicz, Maurycy Maziuk, | Badanie właściwości cienkich warstw AZO wytworzonych metodą rozpylania magnetronowego z dwuelementowej tarczy Zn-Al. W: XIV Konferencja Naukowa Technologia Elektronowa ELTE 2023, Ryn, 18-21 kwietnia 2023 : materiały konferencyjne. [B.m.] : Instytut Mikroelektroniki i Optoelektroniki Politechniki Warszawskiej, [2023]. s. 174-175. ISBN: 978-83-64102-05-9 | | Resources:URL | |
|
| 4 | Proceeding paper 2023
Artur Wiatrowski, Witold Posadowski, Szymon D Kiełczawa, Paweł Chodasewicz, Milena Kiliszkiewicz, | Diagnostyka procesów reaktywnego rozpylania magnetronowego średniej częstotliwości. W: XIV Konferencja Naukowa Technologia Elektronowa ELTE 2023, Ryn, 18-21 kwietnia 2023 : materiały konferencyjne. [B.m.] : Instytut Mikroelektroniki i Optoelektroniki Politechniki Warszawskiej, [2023]. s. 118-119. ISBN: 978-83-64102-05-9 | | Resources:URL | |
|
| 5 | Article 2022
Michał Mazur, Agata Obstarczyk, Witold Posadowski, Jarosław Domaradzki, Szymon D Kiełczawa, Artur Wiatrowski, Damian Wojcieszak, Małgorzata Kalisz, Marcin Grobelny, Jan Szmidt, | Investigation of the microstructure, optical, electrical and nanomechanical properties of ZnOx thin films deposited by magnetron sputtering. Materials. 2022, vol. 15, nr 19, art. 6551, s. 1-18. ISSN: 1996-1944 | | Resources:DOIURLSFX | |
|
| 6 | Article 2022
|
| 7 | Article 2021
Damian Wojcieszak, Michał Mazur, Patrycja A Pokora, Adriana Wrona, Katarzyna Bilewska, Wojciech Kijaszek, Witold Posadowski, Jarosław Domaradzki, | Properties of metallic and mxide thin films based on Ti and Co prepared by magnetron sputtering from sintered targets with different Co-content. Materials. 2021, vol. 14, nr 14, art. 3797, s. 1-16. ISSN: 1996-1944 | | Resources:DOISFX | |
|
| 8 | Article 2021
Bartłomiej Wierdak, Witold Posadowski, Artur Wiatrowski, | Otrzymywanie cienkowarstwowych układów elektrochromowych na bazie tlenku wolframu metodą magnetronowego rozpylania – część I = Preparation of thin film electrochromic structures based on tungsten oxide by magnetron sputtering – part I. Elektronika (Warszawa). 2021, R. 62, nr 3, s. 28-32. ISSN: 0033-2089; 2449-9528 | | Resources:DOI | |
|
| 9 | Proceeding paper 2019
Aneta Zięba, Sergiusz Patela, Witold Posadowski, Mateusz Gramala, Marcin Wielebski, | Ellipsometric measurement of photonic microstructures. W: 7th International Conference on Advances in Electronic and Photonic Technologies : proceedings of ADEPT, Štrbské Pleso, High Tatras, Slovakia, June 24-27, 2019 / eds. D. Jandura [i in. B.m.] : University of Žilina in EDIS-Publishing Centre of UZ, [2019]. s. 127-130. ISBN: 978-80-554-1568-0 |
|
| 10 | Article 2019
Artur Wiatrowski, Witold Posadowski, Damian Wojcieszak, Michał Mazur, Agata Obstarczyk, Aneta Zięba, | Badanie właściwości cienkich warstw tlenków cynku otrzymywanych metodą reaktywnego impulsowego rozpylania magnetronowego = Investigation of the properties of zinc oxide thin films deposited by the reactive pulsed magnetron sputtering method. Elektronika (Warszawa). 2019, R. 60, nr 7, s. 10-13. ISSN: 0033-2089; 2449-9528 | | Resources:DOI | |
|
