Email: adam.szyszka@pwr.edu.pl

Unit: Faculty of Electronics, Photonics and Microsystems (N) » Department of Microelectronics and Nanotechnology

ul. Długa 61-65, 53-633 Wrocław
building M-11, room 146
phone +48 71 320 4957

---

1	Article 2022 Sylwia Baluta, Francesca Meloni, Kinga Halicka-Stępień, Adam Szyszka, Antonio Zucca, Maria I Pilo, Joanna Cabaj, Differential pulse voltammetry and chronoamperometry as analytical tools for epinephrine detection using a tyrosinase-based electrochemical biosensor. RSC Advances. 2022, vol. 12, nr 39, s. 25342-25353. ISSN: 2046-2069 Resources:DOISFX
2	Article 2022 Adam Szyszka, Mateusz Wośko, Andrzej Stafiniak, Joanna Prażmowska-Czajka, Regina Paszkiewicz, Scanning probe microscopy nanoscale electrical characterization of AlGaN/ GaN grown on structured GaN templates. Solid-State Electronics. 2022, vol. 193, art. 108288, s. 1-6. ISSN: 0038-1101; 1879-2405 Resources:DOIURLSFX
3	Proceeding paper 2021 Andrzej Stafiniak, Adam Szyszka, Joanna Prażmowska-Czajka, Mateusz Wośko, Regina Paszkiewicz, Atomic layer etching of gallium nitride. W: 9th International Conference on Advances in Electronic and Photonic Technologies : proceedings of ADEPT, Podbanské, High Tatras, Slovakia, September 20-23, 2021 / [eds. D. Jandura, P. Maniaková, I. Lettrichová, J. Kováč, jr. B.m. : University of Žilina in EDIS-Publishing Centre of UZ, 2021]. s. 83-86. ISBN: 978-80-554-1806-3
4	Article 2021 Adam Szyszka, Mateusz Wośko, Regina Paszkiewicz, Light-assisted scanning probe microscopy characterization of the electrical properties of AlGaN/GaN/Si heterostructures. Applied Surface Science. 2021, vol. 538, art. 148189, s. 1-12. ISSN: 0169-4332; 1873-5584 Resources:DOISFX
5	Article 2020 Sylwia Baluta, Dorota Zając, Adam Szyszka, Karol Malecha, Joanna Cabaj, Enzymatic platforms for sensitive neurotransmitter detection. Sensors. 2020, vol. 20, nr 2, art. 423, s. 1-25. ISSN: 1424-8220 Resources:DOIURLSFX
6	Article 2019 Adam Szyszka, Mateusz Wośko, Regina Paszkiewicz, Badanie elektrycznych właściwości powierzchni heterostruktur AlGaN/GaN/Si technikami mikroskopii ze skanującą sondą i oświetleniem = Characterization of the electrical properties of AlGaN/GaN heterostructures on a silicon substrate by scanning capacitance and scanning surface potential microscopy. Przegląd Elektrotechniczny. 2019, R. 95, nr 9, s. 157-160. ISSN: 0033-2097; 2449-9544 Resources:DOIURL
7	Proceeding paper 2019 Regina Paszkiewicz, Bogdan Paszkiewicz, Mateusz Wośko, Joanna Prażmowska-Czajka, Andrzej Stafiniak, Wojciech Macherzyński, Adam Szyszka, Sławomir Owczarzak, Bartłomiej Paszkiewicz, Grzegorz R Ilgiewicz, Piotr Pokryszka, Mateusz Glinkowski, Agnieszka Zawadzka, Projekt technologii tranzystora AlGaN/GaN VHEMT. W: XVIII Krajowa Konferencja Elektroniki : Darłówko Wschodnie, 02-06.06.2019 / Uniwersytet Morski w Gdyni. [B.m. : b.w., 2019]. s. 1-5.
8	Article 2019 Beata Ściana, Damian Radziewicz, Wojciech Dawidowski, Adam Szyszka, Jan Kopaczek, Impact of gallium concentration in the gas phase on composition of InGaAsN alloys grown by AP‑MOVPE correlated with their structural and optical properties. Journal of Materials Science. Materials in Electronics. 2019, vol. 30, nr 17, s. 16216-16225. ISSN: 0957-4522; 1573-482X Resources:DOISFX
9	Article 2019 Adam Szyszka, Mateusz Wośko, Bogdan Paszkiewicz, Regina Paszkiewicz, Surface electrical characterization of defect related inhomogeneities of AlGaN/GaN/Si heterostructures using scanning capacitance microscopy. Materials Science in Semiconductor Processing. 2019, vol. 94, s. 57-63. ISSN: 1369-8001 Resources:DOISFX
10	Article 2018 Adam Szyszka, Regina Paszkiewicz, Zintegrowany układ oświetlenia próbki do mikroskopu ze skanującą sondą = Integrated illumination system for scanning probe microscope. Przegląd Elektrotechniczny. 2018, R. 94, nr 8, s. 21-24. ISSN: 0033-2097 2018K Toż w: XVII Krajowa Konferencja Elektroniki [Dokument elektroniczny] : Darłówko Wschodnie, 03-07.06.2018 / Morska Akademia w Gdyni. [B.m. : b.w., 2018]. s. 1-6, 4 rys., 1 tab., bibliogr. 4 poz. Resources:DOIURL