| Wybrane publikacje |
|---|
| 1 | Artykuł 2026
Michał Stępniak, Mateusz M Wośko, Wojciech Kijaszek, Joanna Prażmowska-Czajka, Andrzej P Stafiniak, Regina Paszkiewicz,| Mask interference effect in GaN SA-MOVPE: Predicting the growth of isolated structures. Materials Science and Engineering. B, Advanced Functional Solid-State Materials. 2026, vol. 323, Pt. A, art. 118730, s. 1-9. ISSN: 0921-5107; 1873-4944 | | Zasoby:DOISFX |     |
|
| 2 | Artykuł 2025
Natalia Piegat, Wojciech Kijaszek, Sergiusz Patela, Artur Wymysłowski,| Influence of ellipsometric data type on SiO2 thickness prediction accuracy for different machine learning algorithms. Przegląd Elektrotechniczny. 2025, R. 101, nr 5, s. 89-93. ISSN: 0033-2097; 2449-9544 | | Zasoby:DOIURL | |
|
| 3 | Referat konferencyjny 2025
Wojciech Dawidowski, Jaroslav Bruncko, Andrej Vincze, Wojciech Kijaszek, Monika Wełna, Bartłomiej Staszak, Damian Radziewicz, Beata Ściana,| Electro-optical characterization of transparent indium doped ZnO thin films. W: 13th International Conference on Advances in Electronic and Photonic Technologies : proceedings of ADEPT, Podbanské, High Tatras, Slovakia, June 15-18, 2025 / eds. D. Jandura, I. Lettrichova. [B.m. : University of Žilina in EDIS-Publishing Centre of UZ, 2025]. s. 35-38. ISBN: 978-80-554-2208-4 | | Zasoby:URL | |
|
| 4 | Artykuł 2025
Piotr Pokryszka, Wojciech Kijaszek, Sergiusz Patela, Andrzej P Stafiniak, Mateusz M Wośko, Regina Paszkiewicz,| In-situ characterization of GaN material using reflectance spectroscopy. Metrology and Measurement Systems. 2025, vol. 32, nr 1, s. 1-12. ISSN: 0860-8229; 2300-1941 | | Zasoby:DOIURLSFX | |
|
| 5 | Artykuł 2024
Agata Obstarczyk, Ewa Mańkowska, Wiktoria Weichbrodt, Paulina Kapuścik, Wojciech Kijaszek, Michał M Mazur,| Analysis of the impact of post-process modifications on the properties of TiO2 thin films with high-temperature stable anatase phase deposited by the electron beam evaporation method. Opto-Electronics Review. 2024, vol. 32, nr 4, art. e151991, s. 1-9. ISSN: 1230-3402; 1896-3757 | | Zasoby:DOIURLSFX | |
|
| 6 | Referat konferencyjny 2024
Wojciech Kijaszek, Karol Kolasiński, Sergiusz Patela, Regina Paszkiewicz,| Development of ellipsometric models of Diamond-like Carbon films deposited by the RF IC PECVD technique. W: 12th International Conference on Advances in Electronic and Photonic Technologies : proceedings of ADEPT, Podbanské, High Tatras, Slovakia, June 24-27, 2024 / eds. M. Feiler [i in.]. [B.m. : University of Žilina in EDIS-Publishing Centre of UZ, 2024]. s. 61-64. ISBN: 978-80-554-2109-4 | | Zasoby:URL | |
|
| 7 | Artykuł 2024
Monika Mikulicz, Tristan Smołka, Michał D Rygała, Mikołaj Badura, Wojciech Kijaszek, Adriana Łozińska, Martin Kamp, Marcin Motyka,| Temperature dependence of refractive indices of InP, GaAs, AlAs, and In0.53Ga0.47As in the midinfrared spectral range determined by combined ellipsometry and Fourier-transform spectroscopy. Physical Review Applied. 2024, vol. 21, nr 4, art. 044001, s. 1-11. ISSN: 2331-7019 | | Zasoby:DOIURLSFX | |
|
| 8 | Artykuł 2023
Maciej Jaworski, Aleksandra Chudzyńska, Paweł Mrowiński, Joanna Prażmowska-Czajka, Wojciech Kijaszek, Jan Große, Sven Rodt, Stephan Reitzenstein, Grzegorz Sęk,| Xenon-plasma focused ion beam processing of photonic microstructures with GaAs-based quantum dots. Optical Materials Express. 2023, vol. 13, nr 10, s. 2845-2856. ISSN: 2159-3930 | | Zasoby:DOISFX | |
|
| 9 | Artykuł 2023
Wojciech Kijaszek, Artur Wiatrowski, Michał M Mazur, Damian Wojcieszak, Regina Paszkiewicz, Jaroslav Jr Kovăč,| Study on properties of diamond-like carbon films deposited by RF ICP PECVD method for micro- and optoelectronic applications. Materials Science and Engineering. B, Advanced Functional Solid-State Materials. 2023, vol. 296, s. 1-9, art. 116691. ISSN: 0921-5107; 1873-4944 | | Zasoby:DOIURLSFX | |
|
| 10 | Referat konferencyjny 2023
Mikołaj Badura, Beata Ściana, Adriana Łozińska, Damian Radziewicz, Wojciech Kijaszek, Wojciech Dawidowski, Marek Tłaczała,| Kwantowe lasery kaskadowe: technologia MOVPE i konstrukcje. W: XIV Konferencja Naukowa Technologia Elektronowa ELTE 2023, Ryn, 18-21 kwietnia 2023 : materiały konferencyjne. [B.m.] : Instytut Mikroelektroniki i Optoelektroniki Politechniki Warszawskiej, [2023]. s. 106-107. ISBN: 978-83-64102-05-9 | | Zasoby:URL | |
|
