Wydział Elektroniki, Fotoniki i Mikrosystemów

dr hab. inż. Tomasz Piasecki

Email: tomasz.piasecki@pwr.edu.pl

Jednostka: Wydział Elektroniki, Fotoniki i Mikrosystemów » Katedra Nanometrologii

ul. Janiszewskiego 11/17, Wrocław
bud. C-2, pok. 404
tel. 71 320 3223

Zainteresowania naukowe

  • badania elektrycznych właściwości materiałów; elektryczne metody pomiarowe w mikrobiologii i biochemii; metody elektryczne pomiarów mikro- i nanostruktur drgających; projektowanie i konstrukcja aparatury pomiarowej.

Najważniejsze publikacje z ostatnich lat

2017

  • Moczała M., Kwoka K., Piasecki T., Kunicki P., Sierakowski A., Gotszalk T., Fabrication and characterization of micromechanical bridges with strain sensors deposited using focused electron beam induced technology, Microelectron. Eng. 176 (2017) 111–115. doi:10.1016/j.mee.2017.03.009.

2016

  • Piasecki T., Chabowski K., Nitsch K., Design, calibration and tests of versatile low frequency impedance analyser based on ARM microcontroller, Measurement. 91 (2016) 155–161. doi:10.1016/j.measurement.2016.05.057.

2015

  • Piasecki T., Fast impedance measurements at very low frequencies using curve fitting algorithms, Meas. Sci. Technol. 26 (2015) 65002. doi:10.1088/0957-0233/26/6/065002.

2014

  • Chałupniak A., Waszczuk K., Hałubek-Głuchowska K., Piasecki T., Gotszalk T., Rybka J., Application of quartz tuning forks for detection of endotoxins and Gram-negative bacterial cells by monitoring of Limulus Amebocyte Lysate coagulation, Biosens. Bioelectron. 58 (2014) 132–137. doi:10.1016/j.bios.2014.02.048.

2013

  • Piasecki T., Guła G., Nitsch K., Waszczuk K., Drulis-Kawa Z., Gotszalk T., Evaluation of Pseudomonas aeruginosa biofilm formation using Quartz Tuning Forks as impedance sensors, Sensors Actuators B Chem. 189 (2013) 60–65. doi:10.1016/j.snb.2012.12.087.

Publikacje w bazie DONA


Wybrane publikacje
1
Artykuł
2024
Bartosz Pruchnik, Krzysztof Kwoka, Ewelina Gacka, Dominik Badura, Andrzej Sierakowski, Paweł Janus, Tomasz Piasecki, Teodor Gotszalk,
New design of operational MEMS bridges for measurements of properties of FEBID-based nanostructures. Beilstein Journal of Nanotechnology. 2024, vol. 15, s. 1273-1282. ISSN: 2190-4286
Zasoby:DOIURLSFXImpact FactorLista FiladelfijskaLista MNiSWOpen Access
2
Artykuł
2024
Andrzej Sikora, Dominik Badura, Bartosz Pruchnik, Tomasz Piasecki, Kamil Raczkowski, Teodor Gotszalk,
Conductive Atomic Force Microscopy—ultralow-current measurement systems for nanoscale imaging of a surface’s electrical properties. Sensors. 2024, vol. 24, nr 17, art. 5649, s. 1-13. ISSN: 1424-8220
Zasoby:DOIURLSFXImpact FactorLista FiladelfijskaLista MNiSWOpen Access
3
Artykuł
2024
Masoud Jedari Ghourichaei, Umut Kerimzade, Levent Demirkazik, Bartosz Pruchnik, Krzysztof Kwoka, Dominik Badura, Tomasz Piasecki, Alp Timucin Toymus, Onur Aydin, Bekir Aksoy, Cemal Aydogan, Gokhan Nadar, Ivo Rangelow, Levent Beker, Arda Deniz Yalcinkaya, Halil Bayraktar, Teodor Gotszalk, Burhanettin Erdem Alaca,
Multiscale fabrication and characterization of a NEMS force sensor. Advanced Materials Technologies. 2024, s. 1-9. ISSN: 2365-709X; 2365-709X
Zasoby:DOIURLImpact FactorLista FiladelfijskaLista MNiSWOpen Access
4
Artykuł
2024
Monika Trzebiatowska, Dorota A Kowalska, Agnieszka Ciżman, Natalia A Wójcik, Ryszard J Barczyński, Adam Pikul, Jan Zaręba, Marcin Palewicz, Tomasz Piasecki, Krystian Roleder, Marek A Gusowski, Mirosław Mączka,
Influence of azide and imidazole on the properties of Mn- and Cd-based networks: conductivity and nonlinear phenomena. Journal of Materials Chemistry. C. 2024, vol. 12, nr 37, s. 15119-15136. ISSN: 2050-7526; 2050-7534
Zasoby:DOIURLSFXImpact FactorLista FiladelfijskaLista MNiSW
5
Artykuł
2024
Bartosz Pruchnik, Piotr Smagowski, Dominik Badura, Tomasz Piasecki, Wiktor Połacik, Piotr Putek, Teodor Gotszalk,
Transformer bridge-based metrological unit for scanning thermal microscopy with resistive nanoprobes. Measurement Science & Technology. 2024, vol. 35, nr 8, art. 085901, s. 1-9. ISSN: 0957-0233; 1361-6501
Zasoby:DOISFXImpact FactorLista FiladelfijskaLista MNiSWOpen Access
6
Artykuł
2024
Bartosz Pruchnik, Andrzej Sikora, Bartosz Świadkowski, Piotr Smagowski, Dominik Badura, Krzysztof Kwoka, Tomasz Piasecki, Teodor Gotszalk,
Educational scanning tunneling microscope – open architecture platform for nanotechnology teaching and nanometrology research. Przegląd Elektrotechniczny. 2024, R. 100, nr 6, s. 200-204. ISSN: 0033-2097; 2449-9544
Zasoby:DOIURLImpact FactorLista FiladelfijskaLista MNiSWOpen Access
7
Artykuł
2024
Bartosz Pruchnik, Tomasz Piasecki, Ewelina Gacka, Mateus G Masteghin, David Cox, Teodor Gotszalk,
Improvement of MEMS thermomechanical actuation efficiency by focused ion beam-induced deposition. Journal of Microelectromechanical Systems. 2024, vol. 33, nr 3, s. 362-368. ISSN: 1057-7157; 1941-0158
Zasoby:DOIURLSFXImpact FactorLista FiladelfijskaLista MNiSW
8
Artykuł
2024
Julia Pruchnik, Tomasz Piasecki, Bartosz Pruchnik, Piotr Prokaryn, Rafał Dobrowolski, Andrzej Sierakowski, Teodor Gotszalk,
QEchemMEMS – a working electrode with high-resolution temperature sensing for studying electrochemical heat management systems. Sensors and Actuators. A, Physical. 2024, vol. 366, art. 114994, s. 1-8. ISSN: 0924-4247; 1873-3069
Zasoby:DOIURLSFXImpact FactorLista FiladelfijskaLista MNiSW
9
Artykuł
2024
Tomasz Piasecki, Krzysztof Kwoka, Ewelina Gacka, Teodor Gotszalk,
Electrical, thermal and noise properties of platinum-carbon free-standing nanowires designed as nanoscale resistive thermal devices. Nanotechnology. 2024, vol. 35, art. 115502, s. 1-11. ISSN: 1361-6528
Zasoby:DOIURLSFXImpact FactorLista FiladelfijskaLista MNiSWOpen Access
10
Artykuł
2023
Bartosz Pruchnik, Janusz Fidelus, Ewelina Gacka, Krzysztof Kwoka, Julia Pruchnik, Adrianna Piejko, Łukasz Usydus, Leszek Zaraska, Grzegorz D Sulka, Tomasz Piasecki, Teodor Gotszalk,
Four-point measurement setup for correlative microscopy of nanowires. Nanomaterials. 2023, vol. 13, nr 17, art. 2451, s. 1-12. ISSN: 2079-4991
Zasoby:DOIURLSFXImpact FactorLista FiladelfijskaLista MNiSWOpen Access

Wszystkie publikacje pracownika

Politechnika Wrocławska © 2024