Wydział Elektroniki, Fotoniki i Mikrosystemów

dr hab. inż. Tomasz Grzebyk

Email: tomasz.grzebyk@pwr.edu.pl

Jednostka: Wydział Elektroniki, Fotoniki i Mikrosystemów » Katedra Mikrosystemów

ul. Długa 61-65, Wrocław
bud. M-6, pok. 36
tel. 71 320 4974


Wybrane publikacje
1
Artykuł
2023
Marcin Białas, Tomasz Grzebyk, Michał Krysztof,
Signal detection and imaging methods for MEMS electron microscope. Ultramicroscopy. 2023, vol. 244, art. 113653, s. 1-10. ISSN: 0304-3991; 1879-2723
Zasoby:DOIURLSFXImpact FactorLista FiladelfijskaLista MNiSW
2
Referat konferencyjny
2022
Paweł Urbański, Marcin Białas, Michał Krysztof, Tomasz Grzebyk,
Mems X-ray source: electron-radiation conversion. W: 2022 21st International Conference on Micro and Nanotechnology for Power Generation and Energy Conversion Applications (PowerMEMS), 12-15 December 2022, Utah, Salt Lake City, USA. [B.m.] : IEEE, 2022. s. 42-45. ISBN: 978-1-6654-9307-9; 978-1-6654-9306-2
Zasoby:DOIURL
3
Referat konferencyjny
2022
Michał Krysztof, Paweł Urbański, Tomasz Grzebyk, Matthias Hausladen, Rupert Schreiner,
MEMS X-ray source: electron emitter development. W: 2022 21st International Conference on Micro and Nanotechnology for Power Generation and Energy Conversion Applications (PowerMEMS), 12-15 December 2022, Utah, Salt Lake City, USA. [B.m.] : IEEE, 2022. s. 248-251. ISBN: 978-1-6654-9307-9; 978-1-6654-9306-2
Zasoby:DOI
4
Artykuł
2022
Detection of biofilm on water supply technical materials with the application of an impedance sensor. International Journal of Environmental Research. 2022, vol. 16, art. 64, s. 1-15. ISSN: 1735-6865; 2008-2304
Zasoby:DOIURLSFXImpact FactorLista FiladelfijskaLista MNiSWOpen Access
5
Artykuł
2022
Michał Krysztof, Marcin Białas, Tomasz Grzebyk,
Atmospheric pressure electron detection method for MEMS electron microscope. IEEE Electron Device Letters. 2022, vol. 43, nr 5, s. 813 - 815. ISSN: 0741-3106; 1558-0563
Zasoby:DOIURLSFXImpact FactorLista FiladelfijskaLista MNiSW
6
Patent
2022
Piotr Szyszka, Tomasz Grzebyk,
Piotr Szyszka, Tomasz P. Grzebyk
Patent. Polska, nr PL 241714, opubl. 28.11.2022. Zgłosz. pat. nr P 435681 z dn. 15.10.2020. Miniaturowy powielacz elektronowy / Politechnika Wrocławska, Wrocław, PL ; Piotr Szyszka, Tomasz Grzebyk. 6 s.
Zasoby:URL
7
Referat konferencyjny
2021
Piotr Szyszka, Jakub Jendryka, Marcin Białas, Tomasz Grzebyk,
Towards 3D printed compact Quadrupole mass spectrometer with MEMS components. W: 2021 20th International Conference on Micro and Nanotechnology for Power Generation and Energy Conversion Applications (PowerMEMS), 6-8 December 2021, Exeter, United Kingdom. [B.m.] : IEEE, cop. 2021. s. 144-147. ISBN: 978-1-6654-2219-2; 978-1-6654-2218-5
Zasoby:DOI
8
Referat konferencyjny
2021
Tomasz Grzebyk, Piotr Szyszka, Jan Dziuban,
Identification of a gas composition based on an optical spectrum of plasma generated in MEMS ion spectrometer. W: 2021 20th International Conference on Micro and Nanotechnology for Power Generation and Energy Conversion Applications (PowerMEMS), 6-8 December 2021, Exeter, United Kingdom. [B.m.] : IEEE, cop. 2021. s. 148-151. ISBN: 978-1-6654-2219-2; 978-1-6654-2218-5
Zasoby:DOI
9
Referat konferencyjny
2021
Marcin Białas, Jakub Jendryka, Jan Sobków, Szymon Zakrent, Piotr Szyszka, Tomasz Grzebyk,
Miniature ToF mass spectrometer with an integrated glow-discharge ion source. W: 2021 20th International Conference on Micro and Nanotechnology for Power Generation and Energy Conversion Applications (PowerMEMS), 6-8 December 2021, Exeter, United Kingdom. [B.m.] : IEEE, cop. 2021. s. 152-155. ISBN: 978-1-6654-2219-2; 978-1-6654-2218-5
Zasoby:DOI
10
Artykuł
2021
Michał Krysztof, Marcin Białas, Piotr Szyszka, Tomasz Grzebyk,
Fabrication and characterization of a miniaturized octupole deflection system for the MEMS electron microscope. Ultramicroscopy. 2021, vol. 225, art. 113288, s. 1-8. ISSN: 0304-3991; 1879-2723
Zasoby:DOISFXImpact FactorLista FiladelfijskaLista MNiSW

Wszystkie publikacje pracownika

Politechnika Wrocławska © 2024