Email: michal.krysztof@pwr.edu.pl

Jednostka: Wydział Elektroniki, Fotoniki i Mikrosystemów » Katedra Mikrosystemów

ul. Długa 61-65, Wrocław
bud. M-6, pok.36
tel. 71 320 4974

Konsultacje

• poniedziałek, 10 – 12, pok. 307, bud. C-2
• wtorek, 9 – 11, pok. 36, bud. M-6Bis

---

Zainteresowania naukowe

• mikroinżynieria krzemu i szkła; mikrosystemy MEMS i MOEMS; mikrosystemy wysokopróżniowe; mikroskopia elektronowa

---

Najważniejsze publikacje z ostatnich lat

2018

• Krysztof M., Grzebyk T.P., Szyszka P., Laszczyk K., Górecka-Drzazga A., Dziuban J., Technology and parameters of thin membrane-anode for MEMS transmission electron microscope, Journal of Vacuum Science and Technology B, Nanotechnology & Microelectronics, 2018, vol. 36, nr 2, art. 02C107, s. 1-6
• Słówko W., Wiatrowski A., Krysztof M., Detection of secondary and backscattered electrons for 3D imaging with multi-detector method in VP/ESEM, Micron, 2018, vol. 104, s. 45-60.

2015

• Krysztof M., Grzebyk T.P., Górecka-Drzazga A., Dziuban J., Zintegrowany, miniaturowy, transmisyjny mikroskop elektronowy, patent, P 413122 z dn. 14.07.2015. Opubl. 28.04.2017.
• Krysztof M., Grzebyk T.P., Górecka-Drzazga A., Dziuban J., Electron beam forming in MEMS-type electron gun, 28th International Vacuum Nanoelectronics Conference, IVNC 2015: technical digest, July 13-17, 2015, Guangzhou, China, s. 194-195.
• Krysztof M., Dziuban J., Górecka-Drzazga A., Grzebyk T.P., MEMS-type microchips for biological samples investigation in electron microscopy, Microscopy Conference, MC 2015, Göttingen, Germany, September 6-11, 2015, s. 342-344.

Publikacje w bazie DONA

---

Wybrane publikacje
1	Referat konferencyjny 2024 Michał Krysztof, Piotr Szyszka, Paweł Urbański, Tomasz Grzebyk, High performance paper-CNT field emitters. W: 2024 37th International Vacuum Nanoelectronics Conference (IVNC) : Technical Digest : Brno, Czech Republic, 15-19 July, 2024. Danvers, MA : IEEE, cop. 2024. s. 1-2. ISBN: 979-8-3503-7976-1; 979-8-3503-7977-8 Zasoby:DOIURL
2	Referat konferencyjny 2024 Tomasz Grzebyk, Piotr Szyszka, Michał Krysztof, Paweł Urbański, Marcin Białas, Paweł Knapkiewicz, Jan Dziuban, MEMS-based vacuum analytical instruments for space exploration. W: 2024 37th International Vacuum Nanoelectronics Conference (IVNC) : Technical Digest : Brno, Czech Republic, 15-19 July, 2024. Danvers, MA : IEEE, cop. 2024. s. 1-2. ISBN: 979-8-3503-7976-1; 979-8-3503-7977-8 Zasoby:DOIURL
3	Artykuł 2024 Paweł Urbański, Tomasz Grzebyk, Michał Krysztof, Damian Nowak, Optimization of the transmission X-ray target towards obtaining monochromatic radiation. Advanced Optical Materials. 2024, art. 2401534, s. 1-7. ISSN: 2195-1071 Zasoby:DOI
4	Patent 2024 Michał Krysztof, Wojciech Kubicki, Tomasz Grzebyk, Michał Krysztof, Wojciech Kubicki, Tomasz P. Grzebyk Patent. Polska, nr PL 245205, opubl. 03.06.2024. Zgłosz. nr 438521 z 19.07.2021. Miniaturowe urządzenie do żelowej elektroforezy kapilarnej z miniaturową wyrzutnią elektronową / Politechnika Wrocławska, Wrocław, PL ; Michał Krysztof, Wojciech Kubicki, Tomasz Grzebyk. 9 s. Zasoby:URL
5	Artykuł 2024 Michał Krysztof, Paweł Miera, Paweł Urbański, Tomasz Grzebyk, Matthias Hausladen, Rupert Schreiner, Integrated silicon electron source for high vacuum microelectromechanical system devices. Journal of Vacuum Science and Technology. B, Nanotechnology & Microelectronics. 2024, vol. 42, nr 2, art. 023001, s. 1-9. ISSN: 2166-2746; 2166-2754 Zasoby:DOISFX
6	Artykuł 2023 Paweł Urbański, Marcin Białas, Michał Krysztof, Tomasz Grzebyk, Transmission target for a MEMS X-ray source. Journal of Microelectromechanical Systems. 2023, vol. 32, nr 4, s. 398-404. ISSN: 1057-7157; 1941-0158 Zasoby:DOISFX
7	Referat konferencyjny 2023 Michał Krysztof, Marcin Białas, Tomasz Grzebyk, Imaging using MEMS electron microscope. W: 36th International Vacuum Nanoelectronics Conference, IVNC : July 10-13, 2023, Cambridge MA, USA. Danvers, MA : IEEE, cop. 2023. s. 32-34. ISBN: 979-8-3503-0143-4 Zasoby:DOIURL
8	Referat konferencyjny 2023 Michał Krysztof, Paweł Miera, Paweł Urbański, Tomasz Grzebyk, Integrated silicon electron source for High Vacuum Mems devices. W: 36th International Vacuum Nanoelectronics Conference, IVNC : July 10-13, 2023, Cambridge MA, USA. Danvers, MA : IEEE, cop. 2023. s. 210-212. ISBN: 979-8-3503-0143-4 Zasoby:DOIURL
9	Artykuł 2023 Marcin Białas, Tomasz Grzebyk, Michał Krysztof, Signal detection and imaging methods for MEMS electron microscope. Ultramicroscopy. 2023, vol. 244, art. 113653, s. 1-10. ISSN: 0304-3991; 1879-2723 Zasoby:DOIURLSFX
10	Referat konferencyjny 2022 Paweł Urbański, Marcin Białas, Michał Krysztof, Tomasz Grzebyk, Mems X-ray source: electron-radiation conversion. W: 2022 21st International Conference on Micro and Nanotechnology for Power Generation and Energy Conversion Applications (PowerMEMS), 12-15 December 2022, Utah, Salt Lake City, USA. [B.m.] : IEEE, 2022. s. 42-45. ISBN: 978-1-6654-9307-9; 978-1-6654-9306-2 Zasoby:DOIURL

Wszystkie publikacje pracownika