Kontakt:

piotr.pokryszka@pwr.edu.pl

Zainteresowania naukowe:
1. projektowanie systemów pomiarowych,
2. spektroskopia optyczna,
3. charakteryzacja struktur i przyrządów półprzewodnikowych.

Miejsce i termin konsultacji:
Długa 63,
bud. M-4, pok. 112, lab 02

Konsultacje LATO 2025/2026
bud. M-4, pok. 112 lub 02

Godziny:
śr 9 - 11
cz. 9 - 11

Przykładowe tematy prac dyplomowych, których byłem opiekunem:

 - "Projekt stanowiska pomiarowego do wysokorozdzielczych pomiarów spektralnych z wykorzystaniem metod uczenia maszynowego" - praca inż., KS, ZIMA 2025/2026

- "Budowa systemu do ptychografii fourierowskiej wraz z zastosowaniem algorytmów sztucznej inteligencji do poprawy jakości obrazów" - praca inż., JK, ZIMA 2025/2026

- "Opracowanie optycznego spektrometru emisyjnego wykorzystującego monochromator do analizy materiałów półprzewodnikowych" - praca inż., DB, ZIMA 2024/2025

Koło naukowe którego jestem opiekunem - KN NaMi:
https://nami.pwr.edu.pl/

Media:

https://orcid.org/0000-0003-0627-8874

https://scholar.google.com/citations?user=qXwYXP4AAAAJ&hl=pl&oi=ao

https://www.webofscience.com/wos/author/record/IQV-7590-2023

https://www.linkedin.com/in/piotr-pokryszka-99b88b16a/

Wybrane publikacje
1	Artykuł 2026 Piotr Pokryszka Karol Krzempek Open-Hardware Analog Lock-In amplifier for wavelength modulation spectroscopy gas sensing. Measurement (London). 2026, vol. 266, art. s. 1-11. ISSN: 0263-2241; 1873-412X Zasoby:DOISFX
2	Komunikat konferencyjny 2025 Olga Rac-Rumijowska Piotr Pokryszka Anastazja Sofińska, Patrycja M Suchorska-Woźniak Analysing the influence of conductive layer morphology on microwave field behaviour. W: ISSE 2025 : 48th International Spring Seminar on Electronics Technology : "Sustainable electronics for a circular economy", May 14-18, 2025, Budapest, Hungary : conference program & extended abstracts / eds. Bogdan Mihăilescu [i in.]. Budapest : Budapest University of Technology and Economics, 2025. s. 190-191. ISBN: 978-9-634-21986-6 Zasoby:URL
3	Artykuł 2025 Piotr Pokryszka Wojciech Kijaszek Sergiusz Patela Andrzej P Stafiniak Mateusz M Wośko Regina Paszkiewicz In-situ characterization of GaN material using reflectance spectroscopy. Metrology and Measurement Systems. 2025, vol. 32, nr 1, s. 1-12. ISSN: 0860-8229; 2300-1941 Zasoby:DOIURLSFX
4	Artykuł 2024 Piotr Pokryszka Yingchu Xu, Wonkeun Chang, Karol Krzempek Stabilized 30 µJ dissipative soliton resonance laser source at 1064 nm. Scientific Reports. 2024, vol. 14, art. 28251, s. 1-13. ISSN: 2045-2322 Zasoby:DOIURLSFX
5	Artykuł 2024 Olga Rac-Rumijowska Piotr Pokryszka Tomasz Rybicki, Patrycja M Suchorska-Woźniak Maksymilian Woźniak, Katarzyna Kaczkowska, Iwona Karbownik, Influence of flexible and textile substrates on fequency-slective srfaces (FSS). Sensors. 2024, vol. 24, nr 5, art. 1704, s. 1-12. ISSN: 1424-8220 Zasoby:DOIURLSFX
6	Artykuł 2023 Piotr Bojęś Piotr Jaworski Piotr Pokryszka Walter Belardi, Vincenzo Spagnolo, Karol Krzempek Dual‑band light‑induced thermoelastic spectroscopy utilizing an antiresonant hollow‑core fiber‑based gas absorption cell. Applied Physics B-Lasers and Optics. 2023, vol. 129, art. 177, s. 1-11. ISSN: 0946-2171; 1432-0649 Zasoby:DOIURLSFX
7	Artykuł 2022 Piotr Bojęś Piotr Pokryszka Piotr Jaworski Fei Yu, Dakun Wu, Karol Krzempek Quartz-enhanced photothermal spectroscopy-based methane detection in an anti-resonant hollow-core fiber. Sensors. 2022, vol. 22, nr 15, art. 5504, s. 1-12. ISSN: 1424-8220 Zasoby:DOIURLSFX
8	Artykuł 2021 Piotr Pokryszka Mateusz M Wośko Wojciech Kijaszek Regina Paszkiewicz High performance optical shutter design with scalable aperture. Bulletin of the Polish Academy of Sciences. Technical Sciences. 2021, vol. 69, nr 5, art. e138236, s. 1-6. ISSN: 0239-7528; 2300-1917 Zasoby:DOISFX
9	Artykuł 2019 Wojciech Macherzyński Piotr Buba, Piotr Pokryszka Grzegorz Ilgiewicz Regina Paszkiewicz Pogrubiania elektrochemiczne złotem cienkich warstw metalicznych = Electrochemical thickening with gold of thin metallic layers. Przegląd Elektrotechniczny. 2019, R. 95, nr 10, s. 146-149. ISSN: 0033-2097; 2449-9544 Zasoby:DOIURL
10	Artykuł 2019 Piotr Pokryszka Mateusz M Wośko Regina Paszkiewicz Pomiary in-situ jednorodności temperatury i ex-situ grubości osadzonej warstwy w systemie epitaksjalnym AIXTRON CCS 3x2’’ = The method of temperature calibration of the epitaxy process in the AIXTRON CCS 3x2'' system. Przegląd Elektrotechniczny. 2019, R. 95, nr 10, s. 173-176. ISSN: 0033-2097; 2449-9544 Zasoby:DOIURL

Wszystkie publikacje pracownika