W dniach 12-13.12.2023 w Katedrze Nanometrologii zorganizowano spotkanie robocze miedzynarodowych zespołów badawczych "20INS08 MetExSPM M27 project meeting" zaangażowanych w realizację projektu EU EMPiR MetExSPM.

Celem projektu MetExSPM jest opracowanie narzędzi i metod pozwalających na utrzymanie spójności pomiarowej za pomocą szybkich sond mikroskopów bliskich oddziaływań SPM (ang. Scanning Probe Microscopy) z niepewnością 1 nm, oraz charakteryzowanie właściwości funkcjonalnych nanostruktur.

W projekt zaangażowani są przedstawiciele czterech europejskich instytucji metrologicznych (VTT, CMI, GUM, PTB), Politechniki Wrocławskiej oraz partnerzy przemysłu Carl Zeiss SMT, Nano Analytik (NA) i Physik Instrumente (PI).

Relacja na stronie Katedry Nanometrologii.