Email: piotr.pokryszka@pwr.edu.pl

Jednostka: Wydział Elektroniki, Fotoniki i Mikrosystemów » Katedra Mikroelektroniki i Nanotechnologii

Miejsce i termin konsultacji:

Długa 63,

bud. M-4, pok. 112

 

Godziny:

pn. 13 - 15

cz. 13 - 15

 

https://orcid.org/0000-0003-0627-8874

https://scholar.google.com/citations?user=qXwYXP4AAAAJ&hl=pl&oi=ao

https://www.webofscience.com/wos/author/record/IQV-7590-2023

 

 

---

Wybrane publikacje
1	Artykuł 2024 Olga Rac-Rumijowska, Piotr Pokryszka, Tomasz Rybicki, Patrycja Suchorska-Woźniak, Maksymilian Woźniak, Katarzyna Kaczkowska, Iwona Karbownik, Influence of flexible and textile substrates on fequency-slective srfaces (FSS). Sensors. 2024, vol. 24, nr 5, art. 1704, s. 1-12. ISSN: 1424-8220 Zasoby:DOIURLSFX
2	Artykuł 2023 Piotr Bojęś, Piotr Jaworski, Piotr Pokryszka, Walter Belardi, Vincenzo Spagnolo, Karol Krzempek, Dual‑band light‑induced thermoelastic spectroscopy utilizing an antiresonant hollow‑core fiber‑based gas absorption cell. Applied Physics B-Lasers and Optics. 2023, vol. 129, art. 177, s. 1-11. ISSN: 0946-2171; 1432-0649 Zasoby:DOIURLSFX
3	Artykuł 2022 Piotr Bojęś, Piotr Pokryszka, Piotr Jaworski, Fei Yu, Dakun Wu, Karol Krzempek, Quartz-enhanced photothermal spectroscopy-based methane detection in an anti-resonant hollow-core fiber. Sensors. 2022, vol. 22, nr 15, art. 5504, s. 1-12. ISSN: 1424-8220 Zasoby:DOIURLSFX
4	Artykuł 2021 Piotr Pokryszka, Mateusz Wośko, Wojciech Kijaszek, Regina Paszkiewicz, High performance optical shutter design with scalable aperture. Bulletin of the Polish Academy of Sciences. Technical Sciences. 2021, vol. 69, nr 5, art. e138236, s. 1-6. ISSN: 0239-7528; 2300-1917 Zasoby:DOISFX
5	Artykuł 2019 Wojciech Macherzyński, Piotr Buba, Piotr Pokryszka, Grzegorz Ilgiewicz, Regina Paszkiewicz, Pogrubiania elektrochemiczne złotem cienkich warstw metalicznych = Electrochemical thickening with gold of thin metallic layers. Przegląd Elektrotechniczny. 2019, R. 95, nr 10, s. 146-149. ISSN: 0033-2097; 2449-9544 Zasoby:DOIURL
6	Artykuł 2019 Piotr Pokryszka, Mateusz Wośko, Regina Paszkiewicz, Pomiary in-situ jednorodności temperatury i ex-situ grubości osadzonej warstwy w systemie epitaksjalnym AIXTRON CCS 3x2’’ = The method of temperature calibration of the epitaxy process in the AIXTRON CCS 3x2'' system. Przegląd Elektrotechniczny. 2019, R. 95, nr 10, s. 173-176. ISSN: 0033-2097; 2449-9544 Zasoby:DOIURL
7	Referat konferencyjny 2019 Regina Paszkiewicz, Bogdan Paszkiewicz, Mateusz Wośko, Joanna Prażmowska-Czajka, Andrzej Stafiniak, Wojciech Macherzyński, Adam Szyszka, Sławomir Owczarzak, Bartłomiej Paszkiewicz, Grzegorz Ilgiewicz, Piotr Pokryszka, Mateusz Glinkowski, Agnieszka Zawadzka, Projekt technologii tranzystora AlGaN/GaN VHEMT. W: XVIII Krajowa Konferencja Elektroniki : Darłówko Wschodnie, 02-06.06.2019 / Uniwersytet Morski w Gdyni. [B.m. : b.w., 2019]. s. 1-5.
8	Komunikat konferencyjny 2019 Mateusz Wośko, Bogdan Paszkiewicz, Andrzej Stafiniak, Joanna Prażmowska-Czajka, Andrej Vincze, Piotr Pokryszka, Regina Paszkiewicz, Wybrane problemy wieloetapowej i selektywnej epitaksji azotków trzeciej grupy układu okresowego osadzanych metodą MOVPE. W: 13th Conference „Electron Technology” ELTE ; 43rd International Microelectronics and Packaging IMAPS Poland Conference, 4-6 September 2019, Wrocław, Poland : technical digest / Eds. Rafał Walczak, Karol Malecha. [B.m.] : International Microelectronics and Packaging Society Poland Chapter, [2019]. s. 2-1. ISBN: 978-83-932464-3-4
9	Artykuł 2019 Mateusz Wośko, Bogdan Paszkiewicz, Piotr Pokryszka, Regina Paszkiewicz, MOVPE growth conditions optimization for AlGaN/GaN/Si heterostructures with SiN and LT-AlN interlayers designed for HEMT applications. Journal of Materials Science. Materials in Electronics. 2019, vol. 30, nr 4, s. 4111–4116. ISSN: 0957-4522; 1573-482X Zasoby:DOIURLSFX
10	Artykuł 2018 Piotr Pokryszka, Bogdan Paszkiewicz, Light influence on the sheet resistance of AlGaN/GaN heterostructures grown by MOVPE technique. Crystal Research and Technology. 2018, vol. 53, nr 11, art. 1800157, s. 1-4. ISSN: 0232-1300 Zasoby:DOISFX

Wszystkie publikacje pracownika