Logowanie

 

Wydział Elektroniki, Fotoniki i Mikrosystemów

mgr inż. Piotr Kunicki

Email: piotr.kunicki@pwr.edu.pl

Jednostka: Wydział Elektroniki, Fotoniki i Mikrosystemów » Katedra Nanometrologii

Piotr Kunickiul. Janiszewskiego 11/17, Wrocław
bud. C-2, pok. 213
tel. 71 320 2573

Zainteresowania naukowe

  • wytwarzanie i pomiary struktur nanoelektromechanicznych (NEMS); zogniskowana wiązka jonów (FIB); mikrokospia elektronowa (SEM); projektowanie elektroniki analogowej.

Najważniejsze publikacje z ostatnich lat

2018

  • Stępak B.D., Dzienny P., Franke V., Kunicki P.M., Gotszalk T., Antończak A., Femtosecond laser-induced ripple patterns for homogenous nanostructuring of pyrolytic carbon heart valve implant. Applied Surface Science. 2018, vol. 436, s. 682-689.

2017

  • Sierakowski A., Kopiec D.A., Majstrzyk W., Kunicki P.M., Janus P., Dobrowolski R., Grabiec P., Rangelow I., Gotszalk T., Magnetoelectric versus thermal actuation characteristics of shear force AFM probes with piezoresistive detection. Measurement Science & Technology. 2017, vol. 28, nr 3, s. 1-10.

2016

  • Gajewski K.R., Goniszewski S., Szumska A., Moczała M., Kunicki P.M., Gallop J., Klein N., Hao L., Gotszalk T., Raman spectroscopy and Kelvin probe force microscopy characteristics of the CVD suspended graphene. Diamond and Related Materials. 2016, vol. 64, s. 27-33.

2015

  • Kopiec D.A., Pałetko P., Nieradka K., Majstrzyk W., Kunicki P.M., Sierakowski A., Jóźwiak G., Gotszalk T., Closed-loop surface stress compensation with an electromagnetically actuated microcantilever. Sensors and Actuators. B, Chemical. 2015, vol. 213, s. 566-573.

Publikacje w bazie DONA


Wybrane publikacje
1
Artykuł
2022
Ewelina Gacka, Piotr Kunicki, Andrzej Sikora, Robert Bogdanowicz, Mateusz Ficek, Teodor Gotszalk, Ivo Rangelow, Krzysztof Kwoka,
Focused ion beam-based microfabrication of boron-doped diamond single-crystal tip cantilevers for electrical and mechanical scanning probe microscopy. Measurement (London). 2022, vol. 188, art. 110373, s. 1-10. ISSN: 0263-2241; 1873-412X
Zasoby:DOISFXImpact FactorLista FiladelfijskaLista MNiSWOpen Access
2
Artykuł
2021
Mateusz Ficek, Maciej J Głowacki, Krzysztof Gajewski, Piotr Kunicki, Ewelina Gacka, Krystian Sycz, Mariusz Mrózek, Adam M Wojciechowski, Teodor Gotszalk, Wojciech Gawlik, Robert Bogdanowicz,
Integration of fluorescent, NV-rich nanodiamond particles with AFM cantilevers by focused ion beam for hybrid optical and micromechanical devices. Coatings. 2021, vol. 11, nr 11, art. 1332, s. 1-11. ISSN: 2079-6412
Zasoby:DOIURLSFXImpact FactorLista FiladelfijskaLista MNiSWOpen Access
3
Artykuł
2020
Bartosz Świadkowski, Piotr Kunicki, Andrzej Sierakowski, Teodor Gotszalk,
Near-zero contact force atomic force microscopy investigations using active electromagnetic cantilevers. Nanotechnology. 2020, vol. 31, nr 42, art. 425706, s. 1-11. ISSN: 0957-4484; 1361-6528
Zasoby:DOIURLSFXImpact FactorLista FiladelfijskaLista MNiSW
4
Artykuł
2020
Maria Evelina Mognaschi, Krzysztof Kwoka, Tomasz Piasecki, Piotr Kunicki, Andrzej Sierakowski, Arkadiusz Podgórni, Bartosz Pruchnik, Pablo Di Barba, Teodor Gotszalk,
A method of magnetic field measurement in a scanning electron microscope using a microcantilever magnetometer. Metrology and Measurement Systems. 2020, vol. 27, nr 1, s. 141-149. ISSN: 0860-8229; 2300-1941
Zasoby:DOISFXImpact FactorLista FiladelfijskaLista MNiSWOpen Access
5
Artykuł
2020
Piotr Kunicki, Magdalena Moczała-Dusanowska, Paulina Szymanowska, Tomasz Piasecki, Teodor Gotszalk,
Quartz tuning fork mass change sensing for FIB/SEM technology. Micron. 2020, vol. 129, art. 102792, s. 1-7. ISSN: 0968-4328
Zasoby:DOIURLSFXImpact FactorLista FiladelfijskaLista MNiSW
6
Artykuł
2020
Krzysztof Gajewski, Sami Ramadan, Piotr Kunicki, Olena Shaforost, Norbert Klein, Teodor Gotszalk,
Microscale surface potential gradient disturbances observed in bilayer graphene. Applied Surface Science. 2020, vol. 510, art. 145504, s. 1-8. ISSN: 0169-4332; 1873-5584
Zasoby:DOIURLSFXImpact FactorLista FiladelfijskaLista MNiSW
7
Artykuł
2019
Piotr Kunicki, Tihomir Angelov, Tzvetan Ivanov, Teodor Gotszalk, Ivo Rangelow,
Sensitivity improvement to active piezoresistive AFM probes using focused ion beam processing. Sensors. 2019, vol. 19, nr 20, art. 4429, s. 1-9. ISSN: 1424-8220
Zasoby:DOISFXImpact FactorLista FiladelfijskaLista MNiSWOpen Access
8
Artykuł
2019
Tomasz Dąbrowa, Magdalena Tamulewicz-Szwajkowska, Tomasz Piasecki, Piotr Kunicki, Włodzimierz Więckiewicz, Teodor Gotszalk,
Analysis of the electrolytically polished skeletal dentures surfaces using various nano- and microscopic technologies. Acta of Bioengineering and Biomechanics. 2019, vol. 21, nr 4, s. 123-129. ISSN: 1509-409X; 2450-6303
Zasoby:DOISFXImpact FactorLista FiladelfijskaLista MNiSWOpen Access
9
Komunikat konferencyjny
2019
Krzysztof Gajewski, Nicola Black, John Gallop, Stefan Goniszewski, Toby Hallam, Ling Hao, Adrian M Ionescu, Witold Kaczorowski, Norbert Klein, Piotr Kunicki, Magdalena Moczała, Clara F Moldovan, Piotr Niedzielski, Andrzej Sierakowski, Anna Szumska, Witold Szymański, Teodor Gotszalk,
Probing electrical and mechanical properties of graphene using scanning probe/electron microscopy and related techniques. W: Microtherm 2019 : Microtechnology and Thermal Problems in Electronics, June 24th-June 26th 2019, Lodz, Poland : book of abstracts / ed. Jacek Podgórski. Lodz : Lodz University of Technology. Department of Semiconductor and Optoelectronics Devices, cop. 2019. s. 51-53. ISBN: 978-83-932197-6-6
10
Komunikat konferencyjny
2019
Krzysztof Gajewski, Nicola Black, John Gallop, Stefan Goniszewski, Toby Hallam, Ling Hao, Adrian M Ionescu, Witold Kaczorowski, Norbert Klein, Piotr Kunicki, Magdalena Moczała, Clara F Moldovan, Piotr Niedzielski, Jarosław Serafińczuk, Andrzej Sierakowski, Anna Szumska, Witold Szymański, Magdalena Tamulewicz-Szwajkowska, Teodor Gotszalk,
Electrical and mechanical properties probing of graphene nano-electro-mechanical-systems. W: 6th Conference on Nano- and Micromechanics, Rzeszów, Poland, 3-5 July 2019 : book of abstracts / eds. M. Kmiotek, A. Kordos. [Rzeszów] : Publishing House of Rzeszów University of Technology, cop. 2019. s. 89-91. ISBN: 978-83-7934-312-6

Wszystkie publikacje pracownika

Politechnika Wrocławska © 2024