Email: teodor.gotszalk@pwr.edu.pl

Stanowisko: kierownik katedry

Jednostka: Wydział Elektroniki, Fotoniki i Mikrosystemów » Katedra Nanometrologii

ul. Janiszewskiego 11/17, Wrocław
bud. C-2, pok. 215
tel. 71 320 3202

---

Wybrane publikacje
1	Artykuł 2024 Bartosz Pruchnik, Dominik Badura, Władysław Kopczyński, Dariusz Czułek, Ivo Rangelow, Virpi Korpolainen, Andrzej Sierakowski, Andrew Yacoot, Teodor Gotszalk, Application of active piezoresistive cantilevers in high-eigenmode surface imaging. Measurement Science & Technology. 2024, s. 1-15. ISSN: 0957-0233; 1361-6501 Zasoby:DOIURL
2	Artykuł 2024 Bartosz Pruchnik, Krzysztof Kwoka, Ewelina Gacka, Dominik Badura, Andrzej Sierakowski, Paweł Janus, Tomasz Piasecki, Teodor Gotszalk, New design of operational MEMS bridges for measurements of properties of FEBID-based nanostructures. Beilstein Journal of Nanotechnology. 2024, vol. 15, s. 1273-1282. ISSN: 2190-4286 Zasoby:DOIURLSFX
3	Artykuł 2024 Andrzej Sikora, Dominik Badura, Bartosz Pruchnik, Tomasz Piasecki, Kamil Raczkowski, Teodor Gotszalk, Conductive Atomic Force Microscopy—ultralow-current measurement systems for nanoscale imaging of a surface’s electrical properties. Sensors. 2024, vol. 24, nr 17, art. 5649, s. 1-13. ISSN: 1424-8220 Zasoby:DOIURLSFX
4	Artykuł 2024 Masoud Jedari Ghourichaei, Umut Kerimzade, Levent Demirkazik, Bartosz Pruchnik, Krzysztof Kwoka, Dominik Badura, Tomasz Piasecki, Alp Timucin Toymus, Onur Aydin, Bekir Aksoy, Cemal Aydogan, Gokhan Nadar, Ivo Rangelow, Levent Beker, Arda Deniz Yalcinkaya, Halil Bayraktar, Teodor Gotszalk, Burhanettin Erdem Alaca, Multiscale fabrication and characterization of a NEMS force sensor. Advanced Materials Technologies. 2024, s. 1-9. ISSN: 2365-709X; 2365-709X Zasoby:DOIURL
5	Artykuł 2024 Ewelina Gacka, Bartosz Pruchnik, Magdalena Tamulewicz-Szwajkowska, Dominik Badura, Ivo Rangelow, Teodor Gotszalk, Fabrication of focused ion beam-deposited nanowire probes for conductive atomic force microscopy. Measurement (London). 2024, vol. 234, art. 114815, s. 1-7. ISSN: 0263-2241; 1873-412X Zasoby:DOIURLSFX
6	Artykuł 2024 Bartosz Pruchnik, Janusz Fidelus, Ewelina Gacka, Leszek Zaraska, Grzegorz D Sulka, Teodor Gotszalk, Atomic force microscopy in mechanical measurements of single nanowires. Ultramicroscopy. 2024, vol. 263, art. 113985, s. 1-15. ISSN: 0304-3991; 1879-2723 Zasoby:DOIURLSFX
7	Artykuł 2024 Bartosz Pruchnik, Piotr Smagowski, Dominik Badura, Tomasz Piasecki, Wiktor Połacik, Piotr Putek, Teodor Gotszalk, Transformer bridge-based metrological unit for scanning thermal microscopy with resistive nanoprobes. Measurement Science & Technology. 2024, vol. 35, nr 8, art. 085901, s. 1-9. ISSN: 0957-0233; 1361-6501 Zasoby:DOISFX
8	Artykuł 2024 Bartosz Pruchnik, Andrzej Sikora, Bartosz Świadkowski, Piotr Smagowski, Dominik Badura, Krzysztof Kwoka, Tomasz Piasecki, Teodor Gotszalk, Educational scanning tunneling microscope – open architecture platform for nanotechnology teaching and nanometrology research. Przegląd Elektrotechniczny. 2024, R. 100, nr 6, s. 200-204. ISSN: 0033-2097; 2449-9544 Zasoby:DOIURL
9	Artykuł 2024 Bartosz Pruchnik, Tomasz Piasecki, Ewelina Gacka, Mateus G Masteghin, David Cox, Teodor Gotszalk, Improvement of MEMS thermomechanical actuation efficiency by focused ion beam-induced deposition. Journal of Microelectromechanical Systems. 2024, vol. 33, nr 3, s. 362-368. ISSN: 1057-7157; 1941-0158 Zasoby:DOIURLSFX
10	Artykuł 2024 Bartosz Pruchnik, Piotr Putek, Teodor Gotszalk, Wavelet-based information theory in quantitative assessment of AFM images’ quality. Scientific Reports. 2024, vol. 14, art. 3996, s. 1-13. ISSN: 2045-2322 Zasoby:DOIURLSFX

Wszystkie publikacje pracownika