Email: krzysztof.gajewski@pwr.edu.pl

Jednostka: Wydział Elektroniki, Fotoniki i Mikrosystemów » Katedra Nanometrologii

ul. Janiszewskiego 11/17, Wrocław
bud. C-2, pok. 015
tel. 71 320 3651

Konsultacje

• poniedziałek 10.00-11.00, 14.00-15.00
• wtorek 9.00-11.00

---

Zainteresowania naukowe

• badania prowadzone za pomocą mikroskopii bliskich oddziaływań (SPM); budowa mikroskopów STM/AFM i wdrażanie zaawansowanych trybów SPM; badania materiałów dwuwymiarowych

---

Najważniejsze publikacje z ostatnich lat

2018

• Gajewski K., Szymański W., Kaczorowski W., Niedzielski P., Gotszalk T., Quasi in-situ observation of the elastic properties changes of the graphene–low-density polyethylene composites, Diamond and Related Materials, 2 (82) 2018, 143-149, doi: 10.1016/j.diamond.2018.01.014

2017

• Kaczorowski W., Gajewski K., Szymanski W., Batory D., Wojciechowska A., Swiatek L., Gotszalk T., Niedzielski P., Evaluation of mechanical properties of carbon coatings synthesised in radio frequency plasma on PDMS, Surface and Coatings Technology, Vol. 333, 15 January 2018, 220-228, doi: 10.1016/j.surfcoat.2017.10.070
• Gajewski K., Piasecki T., Kopiec D., Gotszalk T., Development of the tunneling junction simulation environment for scanning tunneling microscope evaluation, Measurement Science and Technology, 3 (28), 23 January 2017, Article number 034012, doi: 10.1088/1361-6501/28/3/034012

2016

• Gajewski K., Szymański W., Niedzielski P., Gotszalk T., Kelvin Probe Force Microscopy investigations of High Strength Metallurgical Graphene transferred on low-density polyethylene, Microelectronic Engineering, Vol. 157, 1 May 2016, 71-77, doi: 10.1016/j.mee.2016.02.046
• Gajewski K., Goniszewski S., Szumska A., Moczała M., Kunicki P., Gallop J., Klein N., Hao L., Gotszalk T., Raman Spectroscopy and Kelvin Probe Force Microscopy characteristics of the CVD suspended graphene, Diamond and Related Materials, 4 (64) 2016, 27-33, doi: 10.1016/j.diamond.2016.01.008

Publikacje w bazie DONA

---

Wybrane publikacje
1	Artykuł 2023 Krzysztof Kwoka, Tomasz Piasecki, Paulina Grabarczyk, Andrzej Sierakowski, Teodor Gotszalk, Ewelina Gacka, Adrianna Piejko, Krzysztof Gajewski, Impedance spectroscopy of electrostatically driven MEMS resonators. Measurement (London). 2023, art. 112845, s. 1-33. ISSN: 0263-2241; 1873-412X Zasoby:DOIURL
2	Artykuł 2023 Krzysztof Kwoka, Tomasz Piasecki, Paulina Grabarczyk, Andrzej Sierakowski, Teodor Gotszalk, Ewelina Gacka, Adrianna Piejko, Krzysztof Gajewski, Impedance spectroscopy of electrostatically driven MEMS resonators. Measurement (London). 2023, art. 112845, s. 1-33. ISSN: 0263-2241; 1873-412X Zasoby:DOIURL
3	Artykuł 2022 Srinivasu Kunuku, Mateusz Ficek, Aleksandra Wieloszyńska, Magdalena Tamulewicz-Szwajkowska, Krzysztof Gajewski, Aneta Lewkowicz, Jacek Ryl, Teodor Gotszalk, Robert Bogdanowicz, Influence of B/N co-doping on electrical and photoluminescence properties of CVD grown homoepitaxial diamond films. Nanotechnology. 2022, vol. 33, nr 12, s. 1-16. ISSN: 0957-4484; 1361-6528 Zasoby:DOIURLSFX
4	Artykuł 2022 Srinivasu Kunuku, Mateusz Ficek, Aleksandra Wieloszyńska, Magdalena Tamulewicz-Szwajkowska, Krzysztof Gajewski, Aneta Lewkowicz, Jacek Ryl, Teodor Gotszalk, Robert Bogdanowicz, Influence of B/N co-doping on electrical and photoluminescence properties of CVD grown homoepitaxial diamond films. Nanotechnology. 2022, vol. 33, nr 12, s. 1-16. ISSN: 0957-4484; 1361-6528 Zasoby:DOIURLSFX
5	Artykuł 2021 Mateusz Ficek, Maciej J Głowacki, Krzysztof Gajewski, Piotr Kunicki, Ewelina Gacka, Krystian Sycz, Mariusz Mrózek, Adam M Wojciechowski, Teodor Gotszalk, Wojciech Gawlik, Robert Bogdanowicz, Integration of fluorescent, NV-rich nanodiamond particles with AFM cantilevers by focused ion beam for hybrid optical and micromechanical devices. Coatings. 2021, vol. 11, nr 11, art. 1332, s. 1-11. ISSN: 2079-6412 Zasoby:DOIURLSFX
6	Artykuł 2021 Mateusz Ficek, Bartłomiej Dec, Kamatchi Jothiramalingam Sankaran, Krzysztof Gajewski, Piotr Tatarczak, Igor Własny, Andrzej Wysmołek, Ken Haenen, Teodor Gotszalk, Robert Bogdanowicz, Stable field electron emission and plasma illumination from boron and nitrogen co-doped edge-rich diamond-enhanced carbon nanowalls. Advanced Materials Interfaces. 2021, vol. 8, nr 22, art. 2100464, s. 1-11. ISSN: 2196-7350 Zasoby:DOISFX
7	Artykuł 2021 Michał Rycewicz, Mateusz Ficek, Krzysztof Gajewski, Srinivasu Kunuku, Jakub Karczewski, Teodor Gotszalk, Igor Własny, Andrzej Wysmołek, Robert Bogdanowicz, Low-strain sensor based on the flexible boron-doped diamond-polymer structures. Carbon. 2021, vol. 173, s. 832-841. ISSN: 0008-6223 Zasoby:DOISFX
8	Artykuł 2021 Mateusz Ficek, Maciej J Głowacki, Krzysztof Gajewski, Piotr Kunicki, Ewelina Gacka, Krystian Sycz, Mariusz Mrózek, Adam M Wojciechowski, Teodor Gotszalk, Wojciech Gawlik, Robert Bogdanowicz, Integration of fluorescent, NV-rich nanodiamond particles with AFM cantilevers by focused ion beam for hybrid optical and micromechanical devices. Coatings. 2021, vol. 11, nr 11, art. 1332, s. 1-11. ISSN: 2079-6412 Zasoby:DOIURLSFX
9	Artykuł 2021 Mateusz Ficek, Bartłomiej Dec, Kamatchi Jothiramalingam Sankaran, Krzysztof Gajewski, Piotr Tatarczak, Igor Własny, Andrzej Wysmołek, Ken Haenen, Teodor Gotszalk, Robert Bogdanowicz, Stable field electron emission and plasma illumination from boron and nitrogen co-doped edge-rich diamond-enhanced carbon nanowalls. Advanced Materials Interfaces. 2021, vol. 8, nr 22, art. 2100464, s. 1-11. ISSN: 2196-7350 Zasoby:DOISFX
10	Artykuł 2021 Michał Rycewicz, Mateusz Ficek, Krzysztof Gajewski, Srinivasu Kunuku, Jakub Karczewski, Teodor Gotszalk, Igor Własny, Andrzej Wysmołek, Robert Bogdanowicz, Low-strain sensor based on the flexible boron-doped diamond-polymer structures. Carbon. 2021, vol. 173, s. 832-841. ISSN: 0008-6223 Zasoby:DOISFX
11	Artykuł 2020 Bartosz Świadkowski, Tomasz Piasecki, Krzysztof Gajewski, Andrzej Dzierka, Teodor Gotszalk, ARMScope – the versatile platform for scanning probe microscopy systems. Metrology and Measurement Systems. 2020, vol. 27, nr 1, s. 119-130. ISSN: 0860-8229; 2300-1941 Zasoby:DOIURLSFX
12	Artykuł 2020 Krzysztof Gajewski, Sami Ramadan, Piotr Kunicki, Olena Shaforost, Norbert Klein, Teodor Gotszalk, Microscale surface potential gradient disturbances observed in bilayer graphene. Applied Surface Science. 2020, vol. 510, art. 145504, s. 1-8. ISSN: 0169-4332; 1873-5584 Zasoby:DOIURLSFX
13	Artykuł 2020 Bartosz Świadkowski, Tomasz Piasecki, Krzysztof Gajewski, Andrzej Dzierka, Teodor Gotszalk, ARMScope – the versatile platform for scanning probe microscopy systems. Metrology and Measurement Systems. 2020, vol. 27, nr 1, s. 119-130. ISSN: 0860-8229; 2300-1941 Zasoby:DOIURLSFX
14	Artykuł 2020 Krzysztof Gajewski, Sami Ramadan, Piotr Kunicki, Olena Shaforost, Norbert Klein, Teodor Gotszalk, Microscale surface potential gradient disturbances observed in bilayer graphene. Applied Surface Science. 2020, vol. 510, art. 145504, s. 1-8. ISSN: 0169-4332; 1873-5584 Zasoby:DOIURLSFX
15	Komunikat konferencyjny 2019 Krzysztof Gajewski, Nicola Black, John Gallop, Stefan Goniszewski, Toby Hallam, Ling Hao, Adrian M Ionescu, Witold Kaczorowski, Norbert Klein, Piotr Kunicki, Magdalena Moczała, Clara F Moldovan, Piotr Niedzielski, Andrzej Sierakowski, Anna Szumska, Witold Szymański, Teodor Gotszalk, Probing electrical and mechanical properties of graphene using scanning probe/electron microscopy and related techniques. W: Microtherm 2019 : Microtechnology and Thermal Problems in Electronics, June 24th-June 26th 2019, Lodz, Poland : book of abstracts / ed. Jacek Podgórski. Lodz : Lodz University of Technology. Department of Semiconductor and Optoelectronics Devices, cop. 2019. s. 51-53. ISBN: 978-83-932197-6-6
16	Komunikat konferencyjny 2019 Krzysztof Gajewski, Nicola Black, John Gallop, Stefan Goniszewski, Toby Hallam, Ling Hao, Adrian M Ionescu, Witold Kaczorowski, Norbert Klein, Piotr Kunicki, Magdalena Moczała, Clara F Moldovan, Piotr Niedzielski, Jarosław Serafińczuk, Andrzej Sierakowski, Anna Szumska, Witold Szymański, Magdalena Tamulewicz-Szwajkowska, Teodor Gotszalk, Electrical and mechanical properties probing of graphene nano-electro-mechanical-systems. W: 6th Conference on Nano- and Micromechanics, Rzeszów, Poland, 3-5 July 2019 : book of abstracts / eds. M. Kmiotek, A. Kordos. [Rzeszów] : Publishing House of Rzeszów University of Technology, cop. 2019. s. 89-91. ISBN: 978-83-7934-312-6
17	Artykuł 2019 Krzysztof Gajewski, Piotr Kunicki, Andrzej Sierakowski, Witold Szymański, Witold Kaczorowski, Piotr Niedzielski, Sami Ramadan, Olena Shaforost, Norbert Klein, Ling Hao, Teodor Gotszalk, High-resolution, spatially-resolved surface potential investigations of high-strength metallurgical graphene using scanning tunnelling potentiometry. Microelectronic Engineering. 2019, vol. 212, s. 1-8. ISSN: 0167-9317 Zasoby:DOIURLSFX
18	Artykuł 2019 Krzysztof Gajewski, Piotr Kunicki, Andrzej Sierakowski, Witold Szymański, Witold Kaczorowski, Piotr Niedzielski, Sami Ramadan, Olena Shaforost, Norbert Klein, Ling Hao, Teodor Gotszalk, High-resolution, spatially-resolved surface potential investigations of high-strength metallurgical graphene using scanning tunnelling potentiometry. Microelectronic Engineering. 2019, vol. 212, s. 1-8. ISSN: 0167-9317 Zasoby:DOIURLSFX
19	Komunikat konferencyjny 2019 Krzysztof Gajewski, Nicola Black, John Gallop, Stefan Goniszewski, Toby Hallam, Ling Hao, Adrian M Ionescu, Witold Kaczorowski, Norbert Klein, Piotr Kunicki, Magdalena Moczała, Clara F Moldovan, Piotr Niedzielski, Andrzej Sierakowski, Anna Szumska, Witold Szymański, Teodor Gotszalk, Probing electrical and mechanical properties of graphene using scanning probe/electron microscopy and related techniques. W: Microtherm 2019 : Microtechnology and Thermal Problems in Electronics, June 24th-June 26th 2019, Lodz, Poland : book of abstracts / ed. Jacek Podgórski. Lodz : Lodz University of Technology. Department of Semiconductor and Optoelectronics Devices, cop. 2019. s. 51-53. ISBN: 978-83-932197-6-6
20	Komunikat konferencyjny 2019 Krzysztof Gajewski, Nicola Black, John Gallop, Stefan Goniszewski, Toby Hallam, Ling Hao, Adrian M Ionescu, Witold Kaczorowski, Norbert Klein, Piotr Kunicki, Magdalena Moczała, Clara F Moldovan, Piotr Niedzielski, Jarosław Serafińczuk, Andrzej Sierakowski, Anna Szumska, Witold Szymański, Magdalena Tamulewicz-Szwajkowska, Teodor Gotszalk, Electrical and mechanical properties probing of graphene nano-electro-mechanical-systems. W: 6th Conference on Nano- and Micromechanics, Rzeszów, Poland, 3-5 July 2019 : book of abstracts / eds. M. Kmiotek, A. Kordos. [Rzeszów] : Publishing House of Rzeszów University of Technology, cop. 2019. s. 89-91. ISBN: 978-83-7934-312-6

Wszystkie publikacje pracownika